膜厚监测仪SQM160是利用INFICON石英晶体传感技术在镀膜过程中测量沉积速率和膜厚的精密仪器，标准型有两路传感器输入，同时，4路传感器输入可选，具体视用户实际应用而定；双输出可以向操作者提供直观的模拟沉积速率及膜厚信号。

石英晶体监测仪更小的尺寸、更低的成本，拥有传统QCM的*一样的性能。 在测量薄膜沉积速率和膜层厚度中，INFICON新型的Q-podTM传感器是一种外观小巧，成本低廉，测量准确的解决方案。

IMM-100 薄膜沉积监测仪，重复通过精 确的速率和厚度监测。保护和增加您的利润 IMM-100是一款采用ModeLock技术构建的沉积监测仪，以zui高的厚度精度，上佳的测量分辨率和zui低的速率噪声zui大限度地提高再现性和均匀性。

IMM-200 薄膜沉积监测仪是一款采用ModeLock技术制造的沉积监测仪，以zui高的厚度精度，上佳的测量分辨率和zui低的速率噪声zui大限度地提高再现性和均匀性。

STM-2 USB 薄膜速率/厚度监测仪 STM-2 将 USB 连接的简单与精密测量引擎的精度相结合，在一个结构紧凑、价格便宜的封装内实现所有功能。STM-2 小巧、简单，方便安装和操作。尺寸小巧，价格低廉，性能强大！

STM-2XM 是一款双通道速率/厚度监测仪，它将高精度与灵活编程相结合，易于操作，价格实惠。多个应用的简单操作，功能丰富，易于使用!